2024年の電子展の聴衆のための指示

今すぐあなたの時間を予約してください！

数回クリックして座席を予約し、ブースチケットを入手してください！

ホールC5ホール220ブース

事前に登録します

2024年の電子展の聴衆のための指示
あなたは皆サインアップしました！ 予約していただきありがとうございます！
予約を確認した後、メールでブースチケットをお送りします。
まず  ページ > プロダクトセンター > 集積回路 (ic) > ロジック-特殊ロジック > SN74BCT8373ADWR
問い合わせ/注文 (0)
日本語
日本語
6646755

SN74BCT8373ADWR

引き合い

連絡先情報を使用して必要なすべてのフィールドを完成させてください。「RFQを送信」をクリックしてください。すぐにメールでお問い合わせください。または私たちにメールしてください：info@ftcelectronics.com
オンライン問い合わせ
規格
  • 部品型番
    SN74BCT8373ADWR
  • メーカー/ブランド
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • 在庫数量
    在庫あり
  • 説明
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • フリーステータス/ RoHS状態
    鉛フリー/ RoHS準拠
  • 供給電圧
    4.5 V ~ 5.5 V
  • サプライヤデバイスパッケージ
    24-SOIC
  • シリーズ
    74BCT
  • パッケージング
    Tape & Reel (TR)
  • パッケージ/ケース
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • 運転温度
    0°C ~ 70°C
  • ビット数
    8
  • 装着タイプ
    Surface Mount
  • 水分感受性レベル（MSL）
    1 (Unlimited)
  • 論理タイプ
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • 鉛フリーステータス/ RoHSステータス
    Lead free / RoHS Compliant
  • 詳細な説明
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • ベース部品番号
    74BCT8373

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

11/15/2024

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

11/14/2024
配送
支払い
「SN74BCT8373ADWR」関連製品は次のとおりです。
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

説明: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
唯一の公開オープンマーケットディストリビューターとして、私たちはグローバルアクセス、製造業界の専門知識、および実証済みの品質のユニークな組み合わせを持っています。これにより、電子機器コンポーネントソーシングと在庫管理向けのカスタマイズされたエンドツーエンドのサプライチェーンソリューションを作成できます。
フォロー
利用規約侵害ポリシー引用を要求私たちについてお問い合わせサイトマップ

言語を選択してください

空白スペースをクリックして終了します