2024年の電子展の聴衆のための指示

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SN74BCT8245ANTG4

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規格
  • 部品型番
    SN74BCT8245ANTG4
  • メーカー/ブランド
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • 在庫数量
    在庫あり
  • 説明
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
  • フリーステータス/ RoHS状態
    鉛フリー/ RoHS準拠
  • 供給電圧
    4.5 V ~ 5.5 V
  • サプライヤデバイスパッケージ
    24-PDIP
  • シリーズ
    74BCT
  • パッケージング
    Tube
  • パッケージ/ケース
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • 他の名前
    SN74BCT8245ANTE4
    SN74BCT8245ANTE4-ND
  • 運転温度
    0°C ~ 70°C
  • ビット数
    8
  • 装着タイプ
    Through Hole
  • 水分感受性レベル（MSL）
    1 (Unlimited)
  • 論理タイプ
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • 鉛フリーステータス/ RoHSステータス
    Lead free / RoHS Compliant
  • 詳細な説明
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
  • ベース部品番号
    74BCT8245

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支払い
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SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

説明: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

説明: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

説明: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

メーカー: Luminary Micro / Texas Instruments
在庫あり
RFQ
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