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AI時代のQLC 9th Generation V-NandのSamsungの最初のバッチが大量生産を開始します


Samsungの最新のQLC V-Nandは、複数の画期的なテクノロジーを採用しています。その中には、チャネルホールエッチングテクノロジーは、デュアルスタックアーキテクチャに基づいて最も多くのセル層を達成できます。QLCおよびTLC 9th Generation V-NandのSamsungの最初のバッチは、さまざまなAIアプリケーションに高品質のメモリソリューションを提供します。Samsungの最初の1TBクワッド層セル(QLC)第9世代V-Nandは、大量生産を正式に開始しました。

今年の4月、サムスンはレイヤー3セル(TLC)9世代のV-NANDの最初のバッチの大量生産を開始し、その後QLC 9世代V-NANDの大量生産を達成し、大容量のサムスンの地位をさらに統合しました。高性能NANDフラッシュメモリ市場。

Samsung ElectronicsのFlash Products and TechnologyのエグゼクティブバイスプレジデントであるSung Hoi Hur氏は、次のように述べています。人工知能時代のニーズを満たすことができるSSDソリューションの完全なラインナップ。Generation V-Nand

Samsungは、ブランド化された消費者製品から始まるQLCの第9世代V-NANDのアプリケーション範囲を拡大し、モバイルユニバーサルフラッシュメモリ(UFS)、パーソナルコンピューター、サーバーSSDを含め、クラウドサービスプロバイダーを含む顧客にサービスを提供することを計画しています。

Samsung QLCの9世代のV-Nandは、複数の革新的な成果を利用し、複数の技術的ブレークスルーを達成しています。

SamsungのProud Channel Hole Etchingテクノロジーは、デュアルスタックアーキテクチャに基づいて、業界で最も多くの細胞層を達成できます。Samsungは、TCLの9世代V-NANDに蓄積された技術体験を利用して、ストレージユニットエリアと周辺回路を最適化し、前世代のQLC V-NANDと比較して約86%の密度の増加をもたらしました。

設計された金型テクノロジーは、制御ストレージユニットの単語線(WL)間の間隔を調整し、同じユニット層内および単位層間のストレージユニットの特性が一貫性を保ち、最適な結果を達成することを保証します。v-nandの層が多いほど、ストレージユニットの特性が重要になります。プリセット金型テクノロジーの使用により、以前のバージョンと比較してデータ保持性能が約20%向上し、製品の信頼性が向上しました。

予測プログラムテクノロジーは、ストレージユニットの状態の変化を予測および制御し、不要な操作を可能な限り最小限に抑えることができます。この技術の進歩により、Samsung QLCの9世代のV-NANDの書き込みパフォーマンスが2倍になり、データ入力/出力速度が60%増加しました。

低電力設計技術により、データの読み取り電力がそれぞれ約30%と50%減少しました。このテクノロジーは、NANDメモリセルを駆動するために必要な電圧を減らし、必要なビットライン(BL)のみを感知することができるため、可能な限り消費電力を最小限に抑えます。

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